شما اینجا هستید :صفحه اصلی » سایر رشته ها ... » تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

0

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS

طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است. این روش جهت آنالیز عنصری، آنالیز سطح و جهت اهداف کمی و کیفی صورت میگیرد. اجزای اصلی دستگاه شامل منبع یون، تجزیهگر جرمی و آشکارساز یونی میباشد. طراحی های مختلفی از این دستگاه با کارآیی های متنوع ارائه شده است.این روش به طور گسترده ای تقریبا برای شناسایی تمام عناصر موجود در جدول تناوبی کاربرد دارد. اساسا هر اتم یا مولکولی که توانایی یونیزه شدن و انتقال به فاز گازی را داشته باشد، میتواند توسط این تکنیک مورد تجزیه قرار گیرد.

ارائه شده در دانشگاه صنعتی شریف
قابل ارائه برای رشته مهندسی مواد، رشته فیزیک، رشته شیمی و نانومواد
قابل ارائه برای مقطع کارشناسی و کارشناسی ارشد
قابل ارائه برای درس روش های آنالیز مواد

توضیحات بیشتر + دریافت

بازدید : - بار دسته بندی : سایر رشته ها ... تاريخ : 1 ژانویه 1970 به اشتراک بگذارید :

دیدگاه کاربران

دیدگاه ارسال شده توسط شما ، پس از تایید توسط مدیران سایت منتشر خواهد شد.
دیدگاهی که به غیر از زبان فارسی یا غیر مرتبط با مطلب باشد منتشر نخواهد شد.

انصراف

برچسب ها

آنالیز مواد ، دانشگاه صنعتی شریف ، طیف سنجی جرمی