
تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS
تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش طیف سنجی جرمی یونهای ثانویه یا SIMS طیف سنجی جرمی یکی از کاربردی ترین تکنیکهای آنالیز در شیمی است. این روش جهت آنالیز عنصری، آنالیز سطح و جهت اهداف کمی و کیفی صورت میگیرد. اجزای اصلی دستگاه شامل منبع یون، تجزیهگر جرمی و آشکارساز یونی میباشد. طراحی های مختلفی از این دستگاه با کارآیی […]